@misc{Opilski_Zbigniew_System,
 author={Opilski, Zbigniew and Pustelny, Tadeusz and Maciak, Erwin and Gibiński, Paweł and Kubica, Wincenty and Woźnica, Tomasz and Urbańczyk, Marian and Sieroń, Aleksander},
 howpublished={online},
 publisher={Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej},
 language={pol},
 title={System do widmowej analizy promieniowania widzialnego},
 type={opis patentowy},
 keywords={onkologia, promieniowanie widzialne, analiza widmowa},
}