@misc{_Wybrane,
 howpublished={online},
 publisher={Centralny Program Badań Podstawowych. Politechnika Warszawska},
 publisher={Zakład Podstaw Elektroniki. Instytut Elektroniki Politechniki Śląskiej},
 language={pol},
 title={Wybrane zagadnienia podstawowych problemów współczesnej metrologii oraz technologii i konstrukcji systemów i urządzeń pomiarowo-kontrolnych : raport roczny},
 title={Grupa tematyczna VII, Opracowanie metod i aparatury do nieniszczącej kontroli materiałów i wyrobów},
 title={Temat nr VII.02, Konduktometria wiroprądowa wspomagana komputerowo},
 type={książka},
 keywords={metrologia, systemy pomiarowe, systemy kontroli, urządzenia pomiarowe, urządzenia kontrolne, konduktometria wiroprądowa, wspomaganie komputerowe},
}