TY - GEN A1 - Chwastek, Małgorzata A1 - Weszka, Jan A1 - Jurusik, Jan A1 - Hajduk, Barbara A1 - Jarka, Paweł L1 - http://delibra.bg.polsl.pl/Content/29473/BCPS_33138_-_Influence-of-technol_0000.pdf L2 - http://delibra.bg.polsl.pl/Content/29473 KW - spektroskopia KW - spektroskopia ultrafioletowa KW - spektroskopia w podczerwieni KW - mikroskopia AFM KW - mikroskopia sił atomowych (AFM) T1 - Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films UR - http://delibra.bg.polsl.pl/dlibra/publication/edition/29473 ER -