TY - GEN A1 - Temich, Sebastian T1 - Testowanie i identyfikacja wybranych parametrów specyfikacji projektowej układów elektronicznych z wykorzystaniem metod inteligencji obliczeniowej T1 - Testing and identification of analog and mixed-signal selected specification parameters using computational intelligence methods UR - http://delibra.bg.polsl.pl/dlibra/publication/77644 ER -