Title:
Testowanie analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem dedykowanych pobudzeń aperiodycznych ; Fault diagnosis of analog electronic circuits using specialised aperiodic excitations
Creator:
Keywords:
wykrywanie uszkodzeń (inżynieria) ; układy analogowe ; algorytmy genetyczne ; układy elektroniczne ; testowanie układów elektronicznych ; analogowe układy elektroniczne ; testowanie układów analogowych ; pobudzenia aperiodyczne ; transformacja falkowa
place:
Date:
Contributor:
Rutkowski, Jerzy. Promotor ; Łęski, Jacek. Recenzent ; Zielonko, Romuald. Recenzent
Comment:
Resource Type:
Format:
application/pdf ; application/pdf
Resource Identifier:
Language:
Relation:
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska
Rights Management:
własność autora - umowa licencyjna PŚ
Access:
Notes:
brak możliwości drukowania i edycji dokumentu
Source of funding:
Project Identifier:
Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018