Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego

Jaglarz, Janusz

This publication is protected by law and its content is only available in certain networks in Silesian University of Technology. Employees and Students of the Silesian University of Technology can gain access through the HAN authentication system

Title: Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego

Last modified:

Apr 3, 2019

In our library since:

Sep 5, 2012

Number of object content hits:

All available object's versions:

https://delibra.bg.polsl.pl/publication/2172

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Jaglarz, Janusz : Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego (1996)

Edition name	Date
Jaglarz, Janusz, 1996, Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego	Apr 3, 2019

Object

Title: Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego

Creator:

Date:

Resource Type:

place:

Contributor:

Comment:

Format:

Resource Identifier:

Language:

Relation:

Rights Management:

Access:

Notes:

Source of funding:

Project Identifier:

Subject and keywords:

Object collections:

Last modified:

In our library since:

Number of object content hits:

All available object's versions:

Show description in RDF format:

Show description in OAI-PMH format:

Objects

Similar

similar in FBC

Contact details

Address

Phone

E-Mail

Visit us!