Liniowe kompaktory niemaskujące błędów dla samotestowalnych układów cyfrowych
Creator: Keywords:kompaktory liniowe elektroniczne ; samotestowalne układy cyfrowe ; testery wewnątrzukładowe ; eliminowanie maskowania błędów ; współpraca z rejestrem MISR ; współczynnik kompakcji
place: Date: Contributor:Hławiczka, Andrzej. Promotor ; Hrynkiewicz, Edward. Recenzent ; Kraśniewski, Andrzej. Recenzent
Comment: Resource Type: Format: Resource Identifier:Katalog Biblioteki ; Baza Wiedzy PŚ
Language: Relation:Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska
Rights Management: Access:zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej
Notes:brak możliwości drukowania i edycji dokumentu
Source of funding: Project Identifier:Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018