Title:

Microstructure characterization of deformed copper by XRD line broadening

Creator:

Rzychoń, Tomasz ; Rodak, Kinga

Keywords:

mikrostruktura ; nanomateriały ; dyfrakcja rentgenowska

Resource Type:

artykuł

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

Baza Wiedzy PŚ

Source:

Archives of Materials Science and Engineering, 2007, Vol. 28, Iss. 10, p. 605-608

Language:

eng

Relation:

Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii. Politechnika Śląska

Access:

zasób dostępny bez ograniczeń

Source of funding:

UDA-RPSL.01.03.00-00-042/12-00