Microstructure characterization of deformed copper by XRD line broadening
Autor:Rzychoń, Tomasz ; Rodak, Kinga
Słowa kluczowe:mikrostruktura ; nanomateriały ; dyfrakcja rentgenowska
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło:Archives of Materials Science and Engineering, 2007, Vol. 28, Iss. 10, p. 605-608
Język: Powiązania:Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii. Politechnika Śląska
Dostęp: Źródło finansowania: