Chwastek, Małgorzata ; Weszka, Jan ; Jurusik, Jan ; Hajduk, Barbara ; Jarka, Paweł
Keywords:spektroskopia ; spektroskopia ultrafioletowa ; spektroskopia w podczerwieni ; mikroskopia AFM ; mikroskopia sił atomowych (AFM)
Resource Type: Format: Resource Identifier: Source:Archives of Materials Science and Engineering, 2011, Vol. 48, Iss. 2, p. 69-76
Language: Relation:Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
Access: Source of funding: