Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images
Autor:Weszka, Jan ; Szindler, Marek ; Śliwa, Agata ; Hajduk, Barbara ; Jurusik, Jan
Słowa kluczowe:mikroskopia sił atomowych (AFM) ; mikroskopia AFM ; mikroskopia elektronowa ; mikroskopia skaningowa
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło:Archives of Materials Science and Engineering, 2011, Vol. 48, Iss. 1, p. 40-48
Język: Powiązania:Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
Dostęp: Źródło finansowania: