Weszka, Jan ; Szindler, Magdalena ; Szczęsna, Magdalena ; Szindler, Marek
Słowa kluczowe:mikroskopowa siła atomowa ; powłoki ; spektrometria
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło: Język: Powiązania:Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
Dostęp: Źródło finansowania: