Dobrzański, Leszek Adam ; Krupiński, Mariusz ; Zarychta, Piotr ; Maniara, Rafał
Keywords:sieci neuronowe ; wady odlewnicze ; jakość odlewów
Resource Type: Format: Resource Identifier: Source:Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering, 2007, Vol. 21, Iss. 2, p. 53-56
Language: Relation:Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
Access: Source of funding: