Dobrzański, Leszek Adam ; Krupiński, Mariusz ; Zarychta, Piotr ; Maniara, Rafał
Słowa kluczowe:sieci neuronowe ; wady odlewnicze ; jakość odlewów
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło:Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering, 2007, Vol. 21, Iss. 2, p. 53-56
Język: Powiązania:Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
Dostęp: Źródło finansowania: