Testowanie i projektowanie łatwo testowalnych układów i pakietów cyfrowych. Cz. 2
Słowa kluczowe:magistrala testowania P1149 ; mikroprocesory sygnałowe ; pomocnicze układy cyfrowe ; SCOPE ; standard IEEE P1149 ; system ASSET ; testowanie połączeń ; testowanie pakietów cyfrowych ; testowanie układów cyfrowych ; układy cyfrowe ; układy cyfrowe typu OCTALS
Miejsce wydania: Wydawca:Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Data wydania: Współtwórca:Hławiczka, Andrzej. Red. ; Hławiczka, Andrzej. Oprac. ; Kristof, Adam. Oprac. ; Kopeć, Michał. Oprac. ; Gucwa, Krzysztof. Oprac. ; Muszyński, Janusz. Oprac. ; Badura, Dariusz. Oprac. ; Rymarz, Kazimiera. Oprac. red.
Uwagi:skrypt przeznaczony dla studentów Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki
Typ zasobu: Seria: Identyfikator zasobu:Katalog Biblioteki ; Baza Wiedzy PŚ
Źródło: Język: Powiązania: Prawa:Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Dostęp:zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej
Uwagi:brak możliwości drukowania i edycji dokumentu
Źródło finansowania: