Testowanie i projektowanie łatwo testowalnych układów i pakietów cyfrowych. Cz. 2
Keywords:magistrala testowania P1149 ; mikroprocesory sygnałowe ; pomocnicze układy cyfrowe ; SCOPE ; standard IEEE P1149 ; system ASSET ; testowanie połączeń ; testowanie pakietów cyfrowych ; testowanie układów cyfrowych ; układy cyfrowe ; układy cyfrowe typu OCTALS
place: Publisher:Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Date: Contributor:Hławiczka, Andrzej. Red. ; Hławiczka, Andrzej. Oprac. ; Kristof, Adam. Oprac. ; Kopeć, Michał. Oprac. ; Gucwa, Krzysztof. Oprac. ; Muszyński, Janusz. Oprac. ; Badura, Dariusz. Oprac. ; Rymarz, Kazimiera. Oprac. red.
Comment:skrypt przeznaczony dla studentów Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki
Resource Type: Series: Resource Identifier:Katalog Biblioteki ; Baza Wiedzy PŚ
Source: Language: Relation: Rights Management:Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Access:zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej
Notes:brak możliwości drukowania i edycji dokumentu
Source of funding: