Testowanie i diagnostyka połączeń między modułami cyfrowymi w systemach scalonych : wybrane zagadnienia ; Testing and diagnostics of interconnections between digital cores of systems-on-chip selected issues
Autor: Słowa kluczowe:diagnozowanie modułowych struktur cyfrowych ; systemy on-a-chip (układy scalone) ; testowanie systemów cyfrowych ; połączenia w układach scalonych ; uszkodzenia połączeń ; rejestry liniowe
Miejsce wydania: Wydawca:Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Data wydania: Typ zasobu: Seria: Identyfikator zasobu:Katalog Biblioteki ; Baza Wiedzy PŚ
Źródło: Język: Powiązania:Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska
Prawa: Dostęp:zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej
Uwagi: