Title:

Metrologia naukowa, normatywna i przemysłowa : wybrane zagadnienia ; Scientific, normative and industrial metrology : selected issues

Keywords:

metrologia ; niedokładność pomiarów ; wzorcowanie przyrządów pomiarowych ; pomiary wielkości elektrycznych ; pomiary wielkości nieelektrycznych

place:

Gliwice

Publisher:

Wydawnictwo Politechniki Śląskiej

Date:

2020

Contributor:

Roj, Jerzy. Red. ; Cichy, Adam. Oprac. ; Kampik, Marian. Oprac. ; Roj, Jerzy. Oprac. ; Skubis, Tadeusz. Oprac. ; Wyżgolik, Roman. Oprac. ; Ilewicz, Witold. Oprac. ; Musioł, Krzysztof. Oprac. ; Kciuk, Marek. Oprac. ; Budzan, Sebastian. Oprac. ; Piaskowy, Anna. Oprac. ; Dudzik, Kordian. Oprac. ; Grzenik, Michał. Oprac. ; Kubek, Paweł. Oprac. ; Krauze, Piotr. Oprac. ; Janus, Patryk. Oprac. ; Wawrzała, Paweł. Oprac. ; Hrapkowicz, Bartłomiej. Oprac. ; Jabłoński, Karol. Oprac. ; Dróżdż, Łukasz. Oprac. ; Kubiczek, Krzysztof. Oprac. ; Malinowski, Maciej. Oprac.

Resource Type:

książka

Series:

Monografia ; 868

Resource Identifier:

Katalog Biblioteki ; Baza Wiedzy PŚ

Source:

ISBN 978-83-7880-737-7

Language:

pol

Relation:

Wydział Elektryczny. Politechnika Śląska

Rights Management:

własność autora

Access:

zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej

Notes:

brak możliwości drukowania i edycji dokumentu