Title:

Testowanie analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem dedykowanych pobudzeń aperiodycznych ; Fault diagnosis of analog electronic circuits using specialised aperiodic excitations

Creator:

Chruszczyk, Łukasz

Keywords:

wykrywanie uszkodzeń (inżynieria) ; układy analogowe ; algorytmy genetyczne ; układy elektroniczne ; testowanie układów elektronicznych ; analogowe układy elektroniczne ; testowanie układów analogowych ; pobudzenia aperiodyczne ; transformacja falkowa

place:

Gliwice

Date:

2009

Contributor:

Rutkowski, Jerzy. Promotor ; Łęski, Jacek. Recenzent ; Zielonko, Romuald. Recenzent

Comment:

obrona: 2009-12-15

Resource Type:

streszczenie rozprawy doktorskiej

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

Katalog Biblioteki ; Baza „Dorobek”

Language:

pol

Relation:

Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska

Rights Management:

własność autora - umowa licencyjna PŚ

Access:

zasób dostępny bez ograniczeń

Notes:

brak możliwości drukowania i edycji dokumentu

Source of funding:

EFRR POIG.02.03.02-00-045/10

Project Identifier:

Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018