XPS and AES analysis of PVD coatings
Creator:Dobrzański, Leszek Adam ; Żukowska, Ludwina ; Kubacki, Jerzy Michał ; Gołombek, Klaudiusz ; Mikuła, Jarosław
Keywords:powłoki PVD ; analiza XPS ; analiza AES ; spektroskopia elektronów Augera ; spektroskopia rentgenowska
Resource Type: Format: Resource Identifier: Source:Archives of Materials Science and Engineering, 2008, Vol. 32, Iss. 2, p. 99-102
Language: Relation:Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
Access: Source of funding: