XPS and AES analysis of PVD coatings
Autor:Dobrzański, Leszek Adam ; Żukowska, Ludwina ; Kubacki, Jerzy Michał ; Gołombek, Klaudiusz ; Mikuła, Jarosław
Słowa kluczowe:powłoki PVD ; analiza XPS ; analiza AES ; spektroskopia elektronów Augera ; spektroskopia rentgenowska
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło:Archives of Materials Science and Engineering, 2008, Vol. 32, Iss. 2, p. 99-102
Język: Powiązania:Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
Dostęp: Źródło finansowania: