Dobrzański, Leszek Adam ; Żukowska, Ludwina ; Kubacki, Jerzy Michał ; Gołombek, Klaudiusz ; Mikuła, Jarosław
Baza Wiedzy PŚ ; oai:delibra.bg.polsl.pl:28691
Archives of Materials Science and Engineering, 2008, Vol. 32, Iss. 2, p. 99-102
Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
UDA-RPSL.01.03.00-00-042/12-00
Jul 8, 2015
Jul 8, 2015
65
https://delibra.bg.polsl.pl/publication/32409
Edition name | Date |
---|---|
Dobrzański, Leszek Adam [et al.] : XPS and AES analysis of PVD coatings | Jul 8, 2015 |
Dobrzański, Leszek Adam Żukowska, Ludwina Kwaśny, Waldemar Mikuła, Jarosław Gołombek, Klaudiusz
Dobrzański, Leszek Adam Mikuła, Jarosław Żukowska, Ludwina Gołombek, Klaudiusz Gawarecki, T.
Gołombek, Klaudiusz Mikuła, Jarosław Pakuła, Daniel Żukowska, Ludwina Dobrzański, Leszek Adam
Dobrzański, Leszek Adam Śliwa, Agata Żukowska, Ludwina Mikuła, Jarosław Gołombek, Klaudiusz
Dobrzański, Leszek Adam Żukowska, Ludwina Śliwa, Agata Mikuła, Jarosław
Dobrzańska-Danikiewicz, Anna Gołombek, Klaudiusz Pakuła, Daniel Mikuła, Jarosław Staszuk, Marcin Żukowska, Ludwina
Dobrzańska-Danikiewicz, Anna Gołombek, Klaudiusz Pakuła, Daniel Mikuła, Jarosław Staszuk, Marcin Żukowska, Ludwina
Śliwa, Agata Mikuła, Jarosław Gołombek, Klaudiusz Dobrzański, Leszek Adam