Wybrane zagadnienia podstawowych problemów współczesnej metrologii oraz technologii i konstrukcji systemów i urządzeń pomiarowo-kontrolnych : raport roczny ; Grupa tematyczna VII, Opracowanie metod i aparatury do nieniszczącej kontroli materiałów i wyrobów ; Temat nr VII.02, Konduktometria wiroprądowa wspomagana komputerowo ; Etap 4/1989, Opracowanie podstawowej struktury systemu konduktometru wiroprądowego z automatycznym doborem częstotliwości
Słowa kluczowe:metrologia ; systemy pomiarowe ; systemy kontroli ; urządzenia pomiarowe ; urządzenia kontrolne ; konduktometria wiroprądowa ; wspomaganie komputerowe
Miejsce wydania: Wydawca:Centralny Program Badań Podstawowych. Politechnika Warszawska ; Zakład Podstaw Elektroniki. Instytut Elektroniki Politechniki Śląskiej
Data wydania: Współtwórca:Pawłowski, Zdzisław. Oprac. ; Malzacher, Stanisław. Oprac.
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Język: Powiązania:Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska ; Centralny Program Badań Podstawowych 02.20
Dostęp: