Title:

Wybrane zagadnienia podstawowych problemów współczesnej metrologii oraz technologii i konstrukcji systemów i urządzeń pomiarowo-kontrolnych : raport roczny ; Grupa tematyczna VII, Opracowanie metod i aparatury do nieniszczącej kontroli materiałów i wyrobów ; Temat nr VII.02, Konduktometria wiroprądowa wspomagana komputerowo ; Etap 5/1990 - cz. 1, Przenośne wiroprądowe konduktometry przemysłowe

Keywords:

metrologia ; systemy pomiarowe ; systemy kontroli ; urządzenia pomiarowe ; urządzenia kontrolne ; konduktometria wiroprądowa ; wspomaganie komputerowe

place:

Warszawa ; Gliwice

Publisher:

Centralny Program Badań Podstawowych. Politechnika Warszawska ; Zakład Podstaw Elektroniki. Instytut Elektroniki Politechniki Śląskiej

Date:

1990

Contributor:

Pawłowski, Zdzisław. Oprac. ; Malzacher, Stanisław. Oprac.

Resource Type:

książka

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

Katalog Biblioteki

Language:

pol

Relation:

Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska ; Centralny Program Badań Podstawowych 02.20

Access:

zasób dostępny bez ograniczeń