Szymszal, Jan ; Gierek, Adam ; Kliś, Janusz
Keywords:produkcja odlewnicza ; wspomaganie komputerowe ; analiza Kaplana-Meiera ; analiza przeżycia ; niezawodność ; estymator Kaplana-Meiera
Resource Type: Format: Resource Identifier: Source:Archives of Foundry Engineering, 2010, Vol. 10, Iss. 2, p. 175-178
Language: Relation:Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii. Politechnika Śląska
Access: Source of funding: