Szymszal, Jan ; Gierek, Adam ; Kliś, Janusz
Słowa kluczowe:produkcja odlewnicza ; wspomaganie komputerowe ; analiza Kaplana-Meiera ; analiza przeżycia ; niezawodność ; estymator Kaplana-Meiera
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło:Archives of Foundry Engineering, 2010, Vol. 10, Iss. 2, p. 175-178
Język: Powiązania:Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii. Politechnika Śląska
Dostęp: Źródło finansowania: