System do widmowej analizy promieniowania widzialnego
Autor:Opilski, Zbigniew ; Pustelny, Tadeusz ; Maciak, Erwin ; Gibiński, Paweł ; Kubica, Wincenty ; Woźnica, Tomasz ; Urbańczyk, Marian ; Sieroń, Aleksander
Słowa kluczowe:onkologia ; promieniowanie widzialne ; analiza widmowa
Opis:numer zgłoszenia: 382568 ; data zgłoszenia: 2007-06-06 ; numer publikacji: PL 215334 ; data publikacji: 2013-11-29
Wydawca:Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło:Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej - Serwer Publikacji
Język: Powiązania:Wydział Elektryczny. Politechnika Śląska
Prawa: Dostęp: Źródło finansowania: