Digital Library of the Silesian University of Technology contains 74 540 digital objects
Object
Title: System do widmowej analizy promieniowania widzialnego
Creator:
Opilski, Zbigniew ; Pustelny, Tadeusz ; Maciak, Erwin ; Gibiński, Paweł ; Kubica, Wincenty ; Woźnica, Tomasz ; Urbańczyk, Marian ; Sieroń, Aleksander
Resource Type:
Description:
numer zgłoszenia: 382568 ; data zgłoszenia: 2007-06-06 ; numer publikacji: PL 215334 ; data publikacji: 2013-11-29
Publisher:
Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Format:
Resource Identifier:
Baza „Dorobek” ; oai:delibra.bg.polsl.pl:41138
Source:
Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej - Serwer Publikacji
Language:
Relation:
Wydział Elektryczny. Politechnika Śląska
Rights Management:
Access:
Source of funding:
UDA-RPSL.01.03.00-00-042/12-00
Object collections:
- Digital Library > COLLECTIONS OF PUBLICATIONS OF THE SILESIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY > Publications from database "Bibliography of scientific publications of Silesian University of Technology"
- Digital Library > COLLECTIONS OF PUBLICATIONS OF THE SILESIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY > Patents, industrial designs and utility models
Last modified:
Apr 21, 2017
In our library since:
Apr 21, 2017
Number of object content hits:
41
All available object's versions:
https://delibra.bg.polsl.pl/publication/45163
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Opilski, Zbigniew [et al.] : System do widmowej analizy promieniowania widzialnego | Apr 21, 2017 |
Objects Similar
Opilski, Zbigniew Pustelny, Tadeusz Maciak, Erwin Gibiński, Paweł Kubica, Wincenty Woźnica, Tomasz Urbańczyk, Marian Sieroń, Aleksander
Maciak, Erwin Opilski, Zbigniew Pustelny, Tadeusz Gibiński, Paweł Sieroń, Aleksander Urbańczyk, Marian Woźnica, Tomasz
Pustelny, Tadeusz Opilski, Zbigniew Maciak, Erwin Konieczny, Grzegorz Gibiński, Paweł Ziółkowska, Urszula. Rzecznik patentowy
Maciak, Erwin Opilski, Zbigniew Urbańczyk, Marian
Opilski, Zbigniew Maciak, Erwin Urbańczyk, Marian Ziółkowska, Urszula. Rzecznik patentowy
Maciak, Erwin Opilski, Zbigniew Pustelny, Tadeusz
Jakubik, Wiesław Maciak, Erwin Pustelny, Tadeusz Stolarczyk, Agnieszka Urbańczyk, Marian
Pustelny, Tadeusz Maciak, Erwin Opilski, Zbigniew Ignac-Nowicka, Jolanta
