Opilski, Zbigniew ; Pustelny, Tadeusz ; Maciak, Erwin ; Gibiński, Paweł ; Kubica, Wincenty ; Woźnica, Tomasz ; Urbańczyk, Marian ; Sieroń, Aleksander
numer zgłoszenia: 382568 ; data zgłoszenia: 2007-06-06 ; numer publikacji: PL 215334 ; data publikacji: 2013-11-29
Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Baza „Dorobek” ; oai:delibra.bg.polsl.pl:41138
Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej - Serwer Publikacji
Wydział Elektryczny. Politechnika Śląska
UDA-RPSL.01.03.00-00-042/12-00
Apr 21, 2017
Apr 21, 2017
44
https://delibra.bg.polsl.pl/publication/45163
Edition name | Date |
---|---|
Opilski, Zbigniew [et al.] : System do widmowej analizy promieniowania widzialnego | Apr 21, 2017 |