Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Katalog Biblioteki ; oai:delibra.bg.polsl.pl:42140
Politechnika Śląska im. Wincentego Pstrowskiego
Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej
brak możliwości drukowania i edycji dokumentu
UDA-RPSL.01.03.00-00-042/12-00
2 cze 2020
20 cze 2017
16
https://delibra.bg.polsl.pl/publication/46229
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Nr 1095. Hagel, Ryszard : Metrologia stochastyczna (1982) | 2 cze 2020 |
Wieczorek, Grzegorz Ziółkowska, Urszula. Rzecznik patentowy
Hagel, Ryszard Szuta, Józef Hagel, Marek. Oprac. Łatka, Aleksander. Oprac.
Hagel, Ryszard
Hagel, Ryszard
Hagel, Ryszard
MERA ELWRO Centrum Komputerowych Systemów Automatyki i Pomiarów
Renowski, Janusz