Wyszukiwanie zaawansowane ?

Obiekt

Dostęp ograniczony
Ta publikacja jest chroniona prawem autorskim. Dostęp do jej cyfrowej wersji jest możliwy tylko z wybranych sieci na Politechnice Śląskiej. Pracownicy i Studenci Politechniki Śląskiej mogą uzyskać dostęp poprzez system uwierzytelniania HAN
Ta publikacja jest chroniona prawem autorskim. Dostęp do jej cyfrowej wersji jest możliwy tylko z wybranych sieci na Politechnice Śląskiej. Pracownicy i Studenci Politechniki Śląskiej mogą uzyskać dostęp poprzez system uwierzytelniania HAN

Tytuł: Recenzja rozprawy doktorskiej mgr inż. Anny Michalewicz pt. Niejednorodność optyczna cienkich warstw In-Se

Autor:

Kochowski, Stanisław

Data wydania:

2004

Typ zasobu:

recenzja rozprawy doktorskiej

Miejsce wydania:

Gliwice

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

Baza „Dorobek” ; Katalog Biblioteki ; oai:delibra.bg.polsl.pl:60367

Język:

pol

Powiązania:

Wydział Matematyczno-Fizyczny. Politechnika Śląska

Prawa:

własność autora

Dostęp:

zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej

Uwagi:

brak możliwości drukowania i edycji dokumentu

Źródło finansowania:

Digitalizacja i udostępnianie w formie elektronicznej recenzji rozpraw doktorskich bronionych na Politechnice Śląskiej - zadanie finansowane w ramach umowy nr 549/P-DUN/2018 ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę

Identyfikator projektu:

Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

12 lis 2019

Data dodania obiektu:

12 lis 2019

Liczba wyświetleń treści obiektu:

18

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://delibra.bg.polsl.pl/publication/67517

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
Recenzja rozprawy doktorskiej: Kochowski, Stanisław 12 lis 2019

Obiekty Podobne
Recenzja rozprawy doktorskiej mgr inż. Anny Michalewicz pt. Niejednorodność optyczna cienkich warstw In-Se

Misiewicz, Jan

2004
recenzja rozprawy doktorskiej
Aktualne poglądy na pochodzenie stanów powierzchniowych granicy fazowej półprzewodnik - dielektryk

Kochowski, Stanisław

1989
artykuł
Fenomenologiczna analiza stanów powierzchniowych w układzie półprzewodnik-dielektryk

Kochowski, Stanisław

1996
artykuł
35 lat Wydziału Matematyczno-Fizycznego

Kochowski, Stanisław

2004
artykuł
Analiza powierzchniowych procesów elektronowych w strukturze metal-SiO2-GaAs

Kochowski, Stanisław

2001
praca habilitacyjna
Zastosowanie metody fotonapięcia powierzchniowego do badań powierzchni półprzewodników

Adamowicz, Bogusława Kochowski, Stanisław

1989
artykuł
Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej

Kochowski, Stanisław Szydłowski, Michał

2004
artykuł
The possibilities of the exact measurements and the calibration of C-V quasi-static characteristics of MOS structures

Kochowski, Stanisław Łoś, Stanisław Łudzik, Z.

1985
artykuł
Więcej
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Dane kontaktowe

Adres

Pracownia Digitalizacji
Biblioteka Politechniki Śląskiej

ul. Kaszubska 23 / pok. 317
44-100 Gliwice
Polska

Telefon

tel. +48 32-237-14-34

E-Mail

biblio.cyfrowa@polsl.pl

Odwiedź nas!

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji