Obiekt

Tytuł: Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

31 gru 2021

Data dodania obiektu:

13 gru 2021

Liczba wyświetleń treści obiektu:

60

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://delibra.bg.polsl.pl/publication/81386

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji