Digital Library of the Silesian University of Technology contains 74 550 digital objects
Object
Title: Diagnostyka uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach elektronicznych z wykorzystaniem metod sztucznej inteligencji
place:
Contributor:
Rutkowski, Jerzy. Promotor ; Tadeusiewicz, Ryszard. Recenzent ; Tkacz, Ewaryst. Recenzent
Comment:
Format:
Resource Identifier:
Katalog Biblioteki ; Baza „Dorobek” ; oai:delibra.bg.polsl.pl:7966
Language:
Relation:
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska
Rights Management:
Access:
zasób dostępny wyłącznie z komputerów Biblioteki Politechniki Śląskiej
Notes:
brak możliwości drukowania i edycji dokumentu
Source of funding:
Project Identifier:
Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018
Object collections:
- Digital Library > COLLECTIONS OF PUBLICATIONS OF THE SILESIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY > Doctoral thesis
Last modified:
Jul 4, 2019
In our library since:
Jul 1, 2013
Number of object content hits:
17
All available object's versions:
https://delibra.bg.polsl.pl/publication/8534
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
Objects Similar
Grzechca, Damian Rutkowski, Jerzy. Promotor Kos, Andrzej. Recenzent Tkacz, Ewaryst. Recenzent
Kurowski, Ireneusz Rutkowski, Jerzy. Promotor Kos, Andrzej. Recenzent Tkacz, Ewaryst. Recenzent
Temich, Sebastian Grzechca, Damian. Promotor Hałgas, Stanisław. Recenzent Nowicki, Robert. Recenzent
Temich, Sebastian Grzechca, Damian. Promotor Hałgas, Stanisław. Recenzent Nowicki, Robert. Recenzent
Temich, Sebastian Grzechca, Damian. Promotor Hałgas, Stanisław. Recenzent Nowicki, Robert. Recenzent
Temich, Sebastian Grzechca, Damian. Promotor Hałgas, Stanisław. Recenzent Nowicki, Robert. Recenzent
Grzechca, Damian
Chruszczyk, Łukasz Rutkowski, Jerzy. Promotor Łęski, Jacek. Recenzent Zielonko, Romuald. Recenzent
