Waluś, Stanisław. Promotor ; Choiński, Dariusz. Recenzent ; Miczulski, Wiesław. Recenzent
Katalog Biblioteki ; oai:delibra.bg.polsl.pl:19360
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska
własność autora - umowa licencyjna PŚ
zasób dostępny z komputerów w domenie Politechniki Śląskiej
Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018
Oct 24, 2021
Feb 20, 2014
54
https://delibra.bg.polsl.pl/publication/20892
Edition name | Date |
---|---|
Banaczyk, Elżbieta, 2013, Optymalizacja metrologiczna pomiaru objętości materiału sypkiego metodą radarową | Oct 24, 2021 |
Banaczyk, Elżbieta Waluś, Stanisław. Promotor Choiński, Dariusz. Recenzent Miczulski, Wiesław. Recenzent
Hagel, Marek Malzacher, Stanisław. Promotor Lipowczan, Adam. Recenzent Piotrowski, Janusz. Recenzent
Gawroński, Józef Homa, Damian
Majchrzak, Ryszard Homa, Damian Szlumczyk, Henryk Ostrowski, Tomasz Nierada, Adam Nowicki, Marek. Rzecznik patentowy
Lutyński, Aleksander Golonka, Jan Świątek, Sławomir Ziółkowska, Urszula. Rzecznik patentowy
Majchrzak, Ryszard Homa, Damian Skutela, Piotr Dombek, Adam Małachowski, Marian. Rzecznik patentowy