Waluś, Stanisław. Promotor ; Choiński, Dariusz. Recenzent ; Miczulski, Wiesław. Recenzent
Katalog Biblioteki ; oai:delibra.bg.polsl.pl:19360
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska
własność autora - umowa licencyjna PŚ
zasób dostępny z komputerów w domenie Politechniki Śląskiej
Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018
24 paź 2021
20 lut 2014
54
https://delibra.bg.polsl.pl/publication/20892
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Banaczyk, Elżbieta, 2013, Optymalizacja metrologiczna pomiaru objętości materiału sypkiego metodą radarową | 24 paź 2021 |
Banaczyk, Elżbieta Waluś, Stanisław. Promotor Choiński, Dariusz. Recenzent Miczulski, Wiesław. Recenzent
Hagel, Marek Malzacher, Stanisław. Promotor Lipowczan, Adam. Recenzent Piotrowski, Janusz. Recenzent
Gawroński, Józef Homa, Damian
Majchrzak, Ryszard Homa, Damian Szlumczyk, Henryk Ostrowski, Tomasz Nierada, Adam Nowicki, Marek. Rzecznik patentowy
Lutyński, Aleksander Golonka, Jan Świątek, Sławomir Ziółkowska, Urszula. Rzecznik patentowy
Majchrzak, Ryszard Homa, Damian Skutela, Piotr Dombek, Adam Małachowski, Marian. Rzecznik patentowy