Zastosowanie optycznej spektrometrii emisyjnej ze wzbudzeniem jarzeniowym do analizy profilowej warstw powierzchniowych

Kubiczek, Marta

Ta publikacja jest chroniona prawem autorskim. Dostęp do jej cyfrowej wersji jest możliwy tylko z wybranych sieci na Politechnice Śląskiej. Pracownicy i Studenci Politechniki Śląskiej mogą uzyskać dostęp poprzez system uwierzytelniania HAN

Tytuł: Zastosowanie optycznej spektrometrii emisyjnej ze wzbudzeniem jarzeniowym do analizy profilowej warstw powierzchniowych

Data ostatniej modyfikacji:

2019-06-25

Data dodania obiektu:

2012-11-21

Liczba wyświetleń treści obiektu:

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://delibra.bg.polsl.pl/publication/3115

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Kubiczek, Marta : Zastosowanie optycznej spektrometrii emisyjnej ze wzbudzeniem jarzeniowym do analizy profilowej warstw powierzchniowych (2000)

Nazwa wydania	Data
Kubiczek, Marta, 2000, Zastosowanie optycznej spektrometrii emisyjnej ze wzbudzeniem jarzeniowym do analizy profilowej warstw powierzchniowych	2019-06-25

Obiekt

Tytuł: Zastosowanie optycznej spektrometrii emisyjnej ze wzbudzeniem jarzeniowym do analizy profilowej warstw powierzchniowych

Autor:

Data wydania:

Typ zasobu:

Miejsce wydania:

Współtwórca:

Uwagi:

Format:

Identyfikator zasobu:

Język:

Powiązania:

Prawa:

Dostęp:

Uwagi:

Źródło finansowania:

Identyfikator projektu:

Temat i słowa kluczowe:

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

Data dodania obiektu:

Liczba wyświetleń treści obiektu:

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

Obiekty

Podobne

podobne w FBC

Dane kontaktowe

Adres

Telefon

E-Mail

Odwiedź nas!